Produkt

Kina Multi-spot Beam Profiler-produsent FSA500

En måleanalysator for å analysere og måle optiske parametere for stråler og fokuserte flekker.Den består av en optisk pekeenhet, en optisk dempningsenhet, en varmebehandlingsenhet og en optisk bildeenhet.Den er også utstyrt med programvareanalysefunksjoner og gir testrapporter.


  • Modell:FSA500
  • Bølgelengde:300-1100nm
  • Makt:Maks 500W
  • Merkenavn:CARMAN HAAS
  • Produkt detalj

    Produktetiketter

    Instrumentbeskrivelse:

    En måleanalysator for å analysere og måle optiske parametere for stråler og fokuserte flekker.Den består av en optisk pekeenhet, en optisk dempningsenhet, en varmebehandlingsenhet og en optisk bildeenhet.Den er også utstyrt med programvareanalysefunksjoner og gir testrapporter.

    Instrumentfunksjoner:

    (1) Dynamisk analyse av ulike indikatorer (energifordeling, toppeffekt, elliptisitet, M2, punktstørrelse) innenfor dybden av fokusområdet;

    (2) Bredt bølgelengderesponsområde fra UV til IR (190nm-1550nm);

    (3) Multi-spot, kvantitativ, enkel å betjene;

    (4) Høy skadeterskel til 500W gjennomsnittlig effekt;

    (5) Ultra høy oppløsning opptil 2,2um.

    Instrumentapplikasjon:

    For enkeltstråle- eller multistråle- og strålefokuseringsparametermåling.

    Instrumentspesifikasjon:

    Modell

    FSA500

    Bølgelengde (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Inngangspupillposisjon punktdiameter(mm)

    ≤17

    Gjennomsnittlig kraft(W)

    1-500

    Lysfølsom størrelse (mm)

    5,7 x 4,3

    Målbar punktdiameter (mm)

    0,02-4,3

    Bildehastighet (fps)

    14

    Kobling

    USB 3.0

    Instrumentapplikasjon:

    Bølgelengdeområdet til den testbare strålen er 300-1100nm, gjennomsnittlig stråleeffektområde er 1-500W, og diameteren til det fokuserte punktet som skal måles varierer fra minimum 20μm til 4,3 mm.

    Under bruk flytter brukeren modulen eller lyskilden for å finne den beste testposisjonen, og bruker deretter systemets innebygde programvare for datamåling og analyse.Programvaren kan vise det todimensjonale eller tredimensjonale intensitetsfordelings-tilpasningsdiagrammet for tverrsnittet av lysflekken, og kan også vise kvantitative data som størrelse, elliptisitet, relativ posisjon og intensitet av lysflekken i de to -dimensjonal retning.Samtidig kan strålen M2 måles manuelt.

    y

    Strukturstørrelse

    j

  • Tidligere:
  • Neste:

  • Relaterte produkter